均等論 - 專利

A.是被控侵權物落入灌了水還沒瘦身的專利範圍，即適用均等論；
而後再以先前技術加以阻卻。

Typically, a "hypothetical" claim is drafted to read on the accused device or
system. A hypothetical claim may be constructed to literally cover the
accused device. Id. If such a claim would be unpatentable under 35 U.S.C. §§
102 or 103, then the patentee has overreached, and the accused device is
noninfringing as a matter of law.

B.是被控侵權物落入灌了水又瘦身後的專利範圍，才適用均等論。

(4)被控侵權物品之差異部分不可與專利發明申請時之公知技術同一，或為公知技術所能
輕易推想。


美國與日本對於此點間的差界是，
美國刻意去撰寫一個“hypothetical claim”進行可專利性判斷，而
日本是直接以“被控侵權物品”進行可專利性判斷。

雖然如此，但是直接將“被控侵權物品”，用文字描術後，
那麼該些文字應該就是“hypothetical claim”。

所以，兩者間實質上應無差異。


倒是日本均等論適用要件的第一點，和美國的有差異。

(1)被控侵權物品與申請專利範圍之差異部分，非專利發明之本質部分，

Claim：I + d +E + s
其中第1及3個元件( I及 E )為具可專利性的特徵時，I及E會被認為專利發明之本質部分
不得適用均等論。
僅有第2及4個元件( d 及 s )可適用均等論。

滿奇怪的，不知要件(1)的法理為何？

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