: 我覺得有一些問題不知道大家有沒有興趣思考一下：
: Q1: 專利的品質主體是否可區分為技術與專利說明書?
當然
: Q2: 技術品質是否可以衡量?
邏輯上可以 事實上很難
: 如果可以，衡量的依據是否可以根據技術強度區分？
我認為專利地圖的問題多多少少和這個有關
: 如果可以根據技術強度區分，衡量的方法是否只有引證與被引證數?
其實科學期刊的IF 和很多東西有關 像光學的IF低
但做相同的人很有參考價值 APL IF不低 但垃圾很多
除非nature science但幾個人能發這種論文
: 此外，如果存在衡量的方法，可區分出是相對強度依據還是絕對強度依據嗎?
其實市場經濟下 連做研究都要講求時效了
: Q3: 專利說明書品質是否可以衡量?
可以
: 如果可以，需要衡量的因子有哪些？如何衡量這些因子？
與時俱進 依照申請國當地的法院實務衡量
Festo前後的要求就不同 之後慢慢又有修正
至於衡量是個套套邏輯
: 這些可被衡量的因子可否量化？
根據不同公司和產業可以量化 但我不相信有一套放諸一般皆OK的理論
: 如果存在至少一種以上可以量化的方法，是否有依據？
只要有用 有沒有依據不重要 這是社會科學
: 這個依據是否已經在工程界發展數十年後又轉至所謂"MBA"學系運用？
我覺得這本來就是MBA的課題 其實SCI這東西是台灣走火入魔
: 以上供參
至於V大 我從另一個角度來說
台灣目前的顯學是專利鑑價 而非專利品質
要解決專利中 我認為是相同的問題
專利鑑價 我這十年來都認為亂說一通 但@!#$
專利品質 我最近才聽您談到 不過因為我大概猜的出您的公司
所以我可以想見貴公司的操作模式 應該可以用
就像專利鑑價解決了一些問題
就像黃老師的刑法二階論在錯誤上有其貢獻 但並不是三階不能解決
不想您是什麼目的 如果您想專利品質在台灣成為一派之言
首先除了有議題外 更重要的是您要切割鑑價 或提出更為有利的說法
否則不免是少數說
還有您的專利品質說 如果在OEM ODM廠的說法呢 我其實滿好奇的
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